思考と記録

産業用表面欠陥検出の技術的進化の深い分析。形態学に基づく従来の機械視覚アルゴリズムと最新のディープラーニングモデル（YOLO、セマンティックセグメンテーション、教師なし異常検出）の長所と短所を比較し、エッジIPCへのモデル展開の課題を探求します。